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  • 发布时间: 2017 - 08 - 27
    长度测量误差E0自1.5 + L/350 μm起测量范围XYZ7/7/67007006007/10/67001,00060010/12/61,0001,20060010/16/61,0001,6006009/12/89001,2008009/16/89001,60080012/18/101,2001,8001,00012/24/101,2002,4001,000
    CONTURA长度测量误差E0自1。5 + L/350 μm起测量范围XYZ7/7/67007006007/10/67001,00060010/12/61,0001,20060010/16/61,0001,6006009/12/89001,2008009/16/89001,60080012/18/101,2001,8001,00012/24/101,2002,4001,000探头类型CONTURA可配备固定型被动式探头、灵活的蔡司RDS关节式探头座或主动式扫描测针。各类探头均具有扫描功能。主动式探头采用蔡司navigator技术——高速测量唾手可得。稳定的测量结果根据配置不同,CONTURA采用工业陶瓷或CARAT导轨,具有优异的刚性 、较低的热膨胀性和轻盈的机身重量。三轴均采用四面环抱气浮轴承,可在高速运行和加速的条件下保持稳定性。悬浮安装在CONTURA导轨上的玻璃陶瓷光栅尺具有零膨胀特性,因此无需安装温度传感器或进行误差补偿。高等级的防护特性使得该机器可以在生产车间使用。计算机辅助精度修正(CAA)动态形变的桥架直接影响测量精度,尤其是在扫描测量时更是如此。CONTURA可计算这一动态效应所需的补偿值。因此在高速测量环境下亦可保证测量精度。控制简便用户无需计算机,只需借助界面友好的控制面板即可对系统进行控制。通过先进的摇杆可对所有轴的运动进行更为便捷与精准的控制。可在CNC模。。。
  • 发布时间: 2017 - 08 - 28
    测量范围500 x 500 x 600700 x 700 x 600700 x 1000 x 600可配置的传感器ZEISSXDTRDS-C5VAST XXT
    SPECTRUM II升级,让测量结果更可靠、扫描型SPECTRUM是一款配有蔡司机器、扫描探头和软件技术三坐标测量机。主要性能  “扫描”升级 效率提升,SPECTRUM让接触式扫描测量技术成为蔡司全系列测量设备的标准配置,蔡司三坐标测量真正来到了“全扫描”的时代。SPECTRUM采用的扫描技术,可以获得更全面的轮廓信息,相比单点触发测量能够获得更高的可靠性和重复性,可以控制工件质量及提高生产成本。量身定制 高效体现为满足不同客户的测量需求,新一代SPECTRUM三坐标测量机专门为用户量身定制。可以搭配三款不同的测头:触发式测头直接式扫描测头及旋转测头同时配备了蔡司独有的RDS-CAA技术,仅需一次校准,即可使用全部5184个角度位置,大大减少了探针校准时间,满足了市场上对于高效测量的更快生产力的需求。软硬结合 性能全面除了高稳定性和可靠性,SPECTRUM在软件方面搭配功能强大的CALYPSO软件。图形化的测量编程平台让操作者更容易上手,并且能够大幅提高编程效率;图形化的测量报告系统能够让质量管理者更直观高效地进行产品测量结果的管控。SPECTRUM在工业领域有着广泛的应用,适合小型外壳、冲压件、数控加工零件及塑料件的检测;此外在医疗和电子行业也可以满足客户的检测需求。测量范围500 x 500 x 600700 x 700 x 600700 x 1000 ...
  • 发布时间: 2017 - 08 - 29
    自0.7 + L/400 μm起测量范围XYZ5/5/5500500500
    MICURA自0。7 + L/400 μm起测量范围XYZ5/5/5500500500小型化与高精度工业生产中的零部件日趋小型化,同时对测量精度的要求也在不断提高,MICURA正是针对这一全新需求定制的解决方案。MICURA采用蔡司VAST XT gold扫描探头与navigator技术, 可在主动式扫描时获得微米级的测量精度。它尤其适于测量用于光学和电子产品的结构复杂的小型工件。尽管采用紧凑型设计,系统却具备500 x 500 x 500毫米的测量能力——性能稳定的产品。精准的高速扫描蔡司VAST XT gold探头具有高速扫描功能,除可在极短时间测定几何特征外,还可精准测量及评定形状误差如圆度、平面度等特性。探针最小直径仅为0。3毫米。极速扫描:VAST navigatorPRISMO navigator可极速获取最为精准的测量结果。navigator技术是为蔡司所研发的高速高精度扫描技术。智能优化参数设定以确保测量的精准度。得益于切线逼近扫描、螺旋扫描和测针快速动态校准等功能,可进一步缩短测量时间。计算机辅助精度修正(CAA)PRISMO navigator可实现对测量机动态误差的有效补偿,从而确保即便于高速扫描过程中仍可获得理想的测量精度。操作与人体工学全新设计控制面板,配备LCD显示屏及双手柄控制面板,使用方便快捷。成熟的设计工业陶瓷导轨和大型轴承座可将外界环境的影响降至。。。
  • 发布时间: 2017 - 08 - 29
    长度测量误差E0自1.2 + L/350 μm起测量范围XYZ9/12/89001,2008009/16/89001,60080012/18/81,2001,80080012/24/81,2002,40080012/18/101,2001,8001,00012/24/101,2002,4001,00012/30/101,2003,0001,00012/42/101,2004,2001,00016/24/101,6002,4001,00016/30/101,6003,0001,00016/42/101,6004,2001,00016/24/151,6002,4001,50016/30/151,6003,0001,50016/42/151,6004,2001,50020/24/102,0002,4001,00020/30/102,0003,0001,00020/42/102,0004,2001,00020/24/152,0002,4001,50020/30/152,0003,0001,50020/42/152,0004,2001,500灵活选择由于采用模块式设计理念,ACCURA足以胜任未来的测量需求。它能根据您对测量设备、探头和软件的需求不断成长。ACCURA针对接触式和光学式探头以及扫描模块预设线缆,因而可立即配备多探头运行。重量更轻,速度更快ACCURA 桥架采用钢和铝制结构,具...
    ACCURA长度测量误差E0自1.2 + L/350 μm起测量范围XYZ9/12/89001,2008009/16/89001,60080012/18/81,2001,80080012/24/81,2002,40080012/18/101,2001,8001,00012/24/101,2002,4001,00012/30/101,2003,0001,00012/42/101,2004,2001,00016/24/101,6002,4001,00016/30/101,6003,0001,00016/42/101,6004,2001,00016/24/151,6002,4001,50016/30/151,6003,0001,50016/42/151,6004,2001,50020/24/102,0002,4001,00020/30/102,0003,0001,00020/42/102,0004,2001,00020/24/152,0002,4001,50020/30/152,0003,0001,50020/42/152,0004,2001,500灵活选择由于采用模块式设计理念,ACCURA足以胜任未来的测量需求。它能根据您对测量设备、探头和软件的需求不断成长。ACCURA针对接触式和光学式探头以及扫描模块预设线缆,因而可立即配备多探头运行。重量更轻,速度更快ACCURA 桥架采用钢和...
  • 发布时间: 2017 - 08 - 29
    长度测量误差E0自0.5 + L/500 μm起测量范围XYZ7/9/57009005007/9/77009007009/12/79001,2007009/15/79001,5007009/18/79001,8007009/24/79002,40070012/18/101,2001,8001,00012/24/101,2002,4001,00012/30/101,2003,0001,00012/42/101,2004,2001,00016/24/101,6002,4001,00016/30/101,6003,0001,00016/42/101,6004,2001,000
    ZEISS PRISMO长度测量误差E0自0.5 + L/500 μm起测量范围XYZ7/9/57009005007/9/77009007009/12/79001,2007009/15/79001,5007009/18/79001,8007009/24/79002,40070012/18/101,2001,8001,00012/24/101,2002,4001,00012/30/101,2003,0001,00012/42/101,2004,2001,00016/24/101,6002,4001,00016/30/101,6003,0001,00016/42/101,6004,2001,000极速扫描:VASTPRISMO 可获取精准的测量结果。navigator技术是为蔡司所研发的高速高精度扫描技术。智能优化参数设定以确保测量的精准度。得益于切线逼近扫描、螺旋扫描和测针快速动态校准等功能,可进一步缩短测量时间。计算机辅助精度修正(CAA)PRISMO 可实现对测量机动态误差的有效补偿,从而确保即便于高速扫描过程中仍可获得理想的测量精度。在线测量PRISMO亦适用于贴近于生产区域的在线测量,有效避免往返实验室的周折,得益于蔡司对于关键组件的多年研发经验。机械技术采用碳纤维和工业陶瓷材质的桥框拥有轻质化的结构和优秀的抗扭强度不受温度影响的玻璃陶瓷光栅尺技术所有轴向均采用蔡司四面环抱轴...
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ZEISS 你知道放大80倍后粉末是什么样子的吗?

日期: 2019-03-28
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ZEISS 你知道放大80倍后粉末是什么样子的吗?


   蔡司工业测量是三坐标测量机生产商而且蔡司显微镜在各领域广泛使用

   体积密度和流动特性是对基于粉末技术的生产工艺(如添加剂激光粉末床熔融工艺)所用粉末进行表征的两大重要参数,因为这些参数从本质上决定了粉末在各种生产过程中的可加工性。

[1]对用于处理粉末、应用粉末层的基于粉末床的添加剂生产工艺来说,良好的流动特性尤为重要,而高体积密度对于制造非多孔元件极其重要。

[2],[5] 光学和扫描电子显微镜与ZEISS ZEN 2core 软件中的图像分析工具结合使用,可以高效地对粉末进行表征并确定其质量。

   粉状散装材料的特性表征

   使用光学和扫描电子显微镜

简介

   粉末的体积密度和流动特性主要由粉末的形态、形貌、粒度分布和颗粒内部结构决定。球形颗粒具有较好的流动特性,但不规则或针状颗粒由于颗粒间可能存在连锁过程,其流动特性较差。然而,对球形颗粒做更详细的检查后可能会发现如果其表面结构较为粗糙,则会产生很大的摩擦力,当粉末流动或被压实时,摩擦力会极大地影响粉末的运动。[4]细颗粒占比较高的干粉也会以范德瓦耳斯互作用的形式在各个颗粒之间产生高粘附力,这同样会限制粉末的流动性。[3]此外,颗粒内部结构对粉末的体积密度和稳定性有着决定性的影响。例如,内部孔隙降低了颗粒的体积密度和稳定性。[4]当测试粉末的适用性或相互比较不同的粉末时,必须检查诸如形态、形貌、粒度分布和内部结构等关键因素,以确定它们是否适合后续的生产过程。

实验

   有两种成分相同但体积密度差别较大的碳化钨钴粉可供试验。


   这两种粉末的体积密度按DIN EN ISO 3923:2010来确定,而流动性按DIN EN ISO 13517:2013来测定,具体见表1。

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                                                           △表1 体积密度测试和流动性测试的结果


   利用ZEISS Axio Zoom.V16立体变焦显微镜,将粉末放在透射光下放大80倍进行检查,以研究其体积密度的差异。将几克特定的粉末均匀分布在皮矢培养皿中,然后使用ZEISS ZEN 2 core的软件功能创建大面积平铺图像,以确保每次分析至少有6000个颗粒。定义一个具有3 x 3独立图像的区域。在定义了类别和测量框架后,借助集成图像分析工具,通过灰度阈值化进行自动分割。如果分割错误,还可以在分析之前以交互方式进行纠正。将等效直径作为确定的测量特性进行测量,它与面积相等的理想圆形颗粒的直径相对应,用于确定颗粒尺寸以及费雷特比例(即最小与最大费雷特直径之比,可提供颗粒球形度有关的信息)。图1显示了采用ZEISS ZEN 2 core所提供的图像分析工具在透射光下对某粉末进行分割前(左)和自动分割后(右)的截图。

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△图1  采用ZEISS ZEN 2 core图像分析工具进行表征的粉末;左:未分割,LM,80×;

右:分割后,LM,80×


    利用经研究和图形化描述的许多颗粒(大于6000个对象),可以确定颗粒的粒度分布和费雷特比例分布;参见图2。

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△图2  左:粒度分布;右:费雷特比例分布(对比WC-Co粉末1和粉末2)


   考虑到颗粒的粒度分布和费雷特比例分布,体积密度的差异应归因于颗粒的内部结构,因为两个曲线的差异非常小。因此,我们使用ZEISS Crossbeam 550聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB  SEM)对颗粒进行了进一步的检测。将粉末分散在样品架上,样品架涂有碳胶并溅射金钯层以确保具有良好的导电性。图3是概览图,而图4是对比两种WC-Co粉末的详图。


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△图3 WC-Co颗粒的概览图;左:粉末1,SEM,BSE信号,250×;右:粉末2的概览图,SEM,BSE信号,250×


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△图4 WC-Co颗粒的形貌详图;左:粉末1,SEM,BSE信号,2500×;右:粉末2,SEM,BSE信号,2500×


   从概览图和详图中都可以清楚地看到:粉末1具有向外开放的孔隙,粉末2具有向外封闭的颗粒表面。粉末2的表面结构也明显较细,原因在于其WC粒度较小。为了表征颗粒内部结构,使用 ZEISS Crossbeam 550对每一种粉末将FIB截面放在随机选取的颗粒中间。图5中显示了用于比较的图像。检查图像表明:粉末1的内部孔隙率已经远远高于粉末2。

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△图5  颗粒内部FIB截面;左:内部孔隙率较高的粉末1,FIB,2500×;右:内部孔隙率较低的粉末2,FIB,2500×


   为了定量测定孔隙率,在环氧树脂中添加几克粉末来制备样品,然后使用Struers Tegramin-30系统进行各种研磨和抛光步骤来制备样品。在研磨和抛光过程中对颗粒进行切割,这样可以看到其内部结构。为保证金相抛光样品的导电性,进行了溅射镀层工艺以沉积金钯层,最后用ZEISS Sigma 300VP场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)观察样品。图像的像素大小为50nm,以观察到最少10个像素的待检测孔隙。另外,还使用了ZEISS ZEN 2 core软件中的图像分析工具进行了补充分析。采用了两个灰度阈值的分层分割法,首先使用一个灰度阈值分割颗粒(红色),然后再分割内部孔隙(蓝色)。图6显示了用于图像分析的类别。

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△图6  ZEISS ZEN 2 core 图像分析工具;各类别的层级结构


   定义待测定的测量特性为各个颗粒的面积以及内部孔隙的面积。为特定颗粒分配孔隙后,就可以确定内部孔隙率,从而计算出所检测每种粉末中20个颗粒的平均孔隙率。图7显示了使用ZEISS  ZEN 2 core软件的图像分析工具观察SEM图像和相关分割图像的截面。粉体1的孔隙率明显较高。

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△图7 定量测定孔隙率;左上:粉末1,SEM,BSE信号,像素尺寸:50 nm;右上:粉末2,SEM,BSE信号,像素尺寸:50 nm;左下:分割后的粉末1,  右下:分割后的粉末2


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△表2  不同WC-Co粉末的孔隙率分析结果


   粉末1的体积密度低20%以上,这可以用平均孔隙率高30%来解释。由于两种粉末具有球形颗粒形状,它们的流动性几乎相同。粉末2的流动性较好一些,这是由于其表面形貌较好,颗粒间摩擦较小所致。


总结

粉末特征描述表明:使用光学和扫描电子显微镜可以对粉末进行几乎完全的表征。ZEISS ZEN 2 Core软件的图像分析工具还可以对光学显微镜和扫描电子显微镜的图像进行定量的层级评估。可以通过灰度阈值化,对颗粒、孔隙和相进行自动分割、校正和分析。特别是利用自动分割功能,可以同时分析多个颗粒,从而快速可靠地提供有关粉末质量的统计信息。浙江朗通作为蔡司的官方授权代理竭诚为您服务,欢迎致电13362177588咨询。


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